|
N78E055ALG |
N78 |
8051 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,LVD,POR,PWM,WDT |
40 |
16KB(16K x 8) |
闪存 |
- |
1.25K x 8 |
- |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NANO102ZB1AN |
NuMicro™ Nano102 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
32MHz |
I²C,IrDA,LIN,智能卡,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,I²S,POR,PWM,WDT |
27 |
16KB(16K x 8) |
闪存 |
- |
4K x 8 |
A/D 2x12b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
32-WFQFN 裸露焊盘 |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
N78E055ADG |
N78 |
8051 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,LVD,POR,PWM,WDT |
32 |
16KB(16K x 8) |
闪存 |
- |
1.25K x 8 |
- |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
40-DIP(0.600",15.24mm) |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NANO102ZC2AN |
NuMicro™ Nano102 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
32MHz |
I²C,IrDA,LIN,智能卡,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,I²S,POR,PWM,WDT |
27 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 2x12b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
32-WFQFN 裸露焊盘 |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NANO112RB1AN |
NuMicro™ Nano112 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
32MHz |
I²C,IrDA,LIN,智能卡,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,I²S,LCD,POR,PWM,WDT |
58 |
16KB(16K x 8) |
闪存 |
- |
4K x 8 |
A/D 7x12b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
64-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NANO112LC2AN |
NuMicro™ Nano112 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
32MHz |
I²C,IrDA,LIN,智能卡,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,I²S,LCD,POR,PWM,WDT |
40 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 7x12b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NANO112SC2AN |
NuMicro™ Nano112 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
32MHz |
I²C,IrDA,LIN,智能卡,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,I²S,LCD,POR,PWM,WDT |
58 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 7x12b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
64-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
W78E365A40FL |
W78 |
8052 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,UART/USART |
POR,PWM,WDT |
36 |
64KB(64K x 8) |
闪存 |
- |
1.25K x 8 |
- |
内部 |
0°C ~ 70°C(TA) |
44-BQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
|
|
NANO112RC2AN |
NuMicro™ Nano112 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
32MHz |
I²C,IrDA,LIN,智能卡,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,I²S,LCD,POR,PWM,WDT |
58 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 7x12b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
64-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
M0518LC2AE |
NuMicro M0518 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
50MHz |
I²C,IrDA,LIN,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,LVR,POR,PWM,WDT |
42 |
36KB(36K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 8x12b |
内部 |
-40°C ~ 105°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
N78E366ALG |
N78 |
8051 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,LVD,POR,PWM,WDT |
40 |
64KB(64K x 8) |
闪存 |
- |
1.25K x 8 |
- |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NUC131LC2AE |
NuMicro™ NUC131 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
50MHz |
CAN,I²C,IrDA,LIN,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,DMA,POR,PWM,WDT |
42 |
36KB(36K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 8x12b |
内部 |
-40°C ~ 105°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NUC122ZC1AN |
NuMicro™ NUC122 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
60MHz |
I²C,IrDA,SPI,UART/USART,USB |
断电检测/复位,DMA,I²S,LVD,POR,PS2,WDT |
18 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
4K x 8 |
- |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
32-WFQFN 裸露焊盘 |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
NUC122LC1AN |
NuMicro™ NUC122 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
60MHz |
I²C,IrDA,SPI,UART/USART,USB |
欠压检测/复位,DMA,I²S,LVD,POR,PS2,PWM,WDT |
30 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
4K x 8 |
- |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
M0518LD2AE |
NuMicro M0518 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
50MHz |
I²C,IrDA,LIN,SPI,UART/USART |
欠压检测/复位,LVR,POR,PWM,WDT |
42 |
68KB(68K x 8) |
闪存 |
- |
8K x 8 |
A/D 8x12b |
内部 |
-40°C ~ 105°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |
|
W78E365A40PL |
W78 |
8052 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,UART/USART |
POR,PWM,WDT |
36 |
64KB(64K x 8) |
闪存 |
- |
1.25K x 8 |
- |
内部 |
0°C ~ 70°C(TA) |
44-LCC(J 形引线) |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
|
|
W78L365A24FL |
W78 |
8052 |
8-位 |
24MHz |
EBI/EMI,串行端口 |
POR,PWM,WDT |
36 |
64KB(64K x 8) |
闪存 |
- |
1.25K x 8 |
- |
内部 |
0°C ~ 70°C(TA) |
44-BQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
|
|
W78E058DFG |
W78 |
8052 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,UART/USART |
POR,WDT |
36 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
512 x 8 |
- |
外部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
44-BQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
8 周 |
|
W78E058DLG |
W78 |
8052 |
8-位 |
40MHz |
EBI/EMI,UART/USART |
POR,WDT |
36 |
32KB(32K x 8) |
闪存 |
- |
512 x 8 |
- |
外部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
8 周 |
|
NUC123LC2AN1 |
NuMicro™ NUC123 |
ARM® Cortex®-M0 |
32-位 |
72MHz |
I²C,IrDA,SPI,UART/USART,USB |
欠压检测/复位,DMA,I²S,LVD,POR,PS2,PWM,WDT |
36 |
36KB(36K x 8) |
闪存 |
- |
12K x 8 |
A/D 8x10b |
内部 |
-40°C ~ 85°C(TA) |
48-LQFP |
- |
符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
18 周 |